特長
二次元分光測定
二次元を分光測光方式で計測、非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の透過率波長特性、物体の反射率波長特性など光源や物体の特性や状態を高精度に評価することができます。
500万画素高解像度
高解像度500万画素(2448×2048)の分光計測が可能、500万ポイントの分光スペクトルを高精度に評価できます。
用途例
ぎらつき(スパークル)定量評価 |
太陽光の反射によるディスプレイ表示の見難さの改善があり、AG(アンチグレア)処理を施すことにより反射を低減し表示を見やすくする方法が採用されております。
ディスプレイ表示の見難さの改善と高付加価値向上によりAG処理とディスプレイの高精細化の複合的な要因でAG処理の微細な凹凸がレンズの役割となり”ぎらつき”の現象が発生します。
このため、特性を適正にし定量的な評価が可能な指標を使うことが重要となります。
AG処理ありの輝度ムラは面内の階調が不均一となります。
"ぎらつきコントラスト値"は標準偏差を平均値で割ったばらつきの関係を相対的に評価する際に用いる変動係数であらわすのが一般的です。
例えば、測定エリア全体での管理や9分割した各エリアごと、中心部のみでの管理などお客様によって管理方法は異なります。
2D分光放射計SR-5100は測定エリア全体の輝度を一括計測できますので、"ぎらつき"や"ぎらつきコントラスト"の定量評価が可能です。
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サブピクセル
個体差評価 |
OLEDディスプレイのピクセルは、RGBのサブピクセルで構成されており、各サブピクセルの出力は、個々に制御され、ピクセルレベルでの明るさ(輝度)と色は、 サブピクセルの出力の組み合わせによって定められます。
製造のばらつきにより、同じ色のサブピクセルに同じ電気信号が入力されても輝度にばらつきが生じることがあり、結果、ピクセル間で輝度のばらつきが生じます。
サブピクセルレベルのばらつきは、性能に大きな影響を与えます。
これらはMini-LEDやMicro-LEDディスプレイでも同様のことが言えサブピクセルの個体差によりディスプレイ品質に影響を及ぼします。
一般的な2次元輝度計(XYZ方式)で測定したデータにおいては輝度・色度レベルでの差異はわかりますが、実際には分光スペクトルで確認しないと何が問題なのか把握することができません。
高倍率の対物レンズを持つ金属顕微鏡に2D分光放射計SR-5100HMを取付けることで評価ができます。
サブピクセルを分光測定することで個体差の原因を明確にすることができます。
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混色
(ピクセル漏れ光)
評価 |
OLEDの一般的なバンク材はアウトガスを低減させる目的で現状透明なタイプが採用されており、バンクの欠陥やバンクを通過した光による漏れ光や反射が発生します。
例えば赤(R)のみ表示した場合に隣り合ったサブピクセルに光が漏れ、緑(G)や青(B)も発光する現象があります。
赤(R)のみ発光させ一般的な2次元輝度計(XYZ方式)で測定した輝度(擬似カラー)表示した場合には赤(R)部分のみの発光しか判別できません。
SR-5100HM+顕微鏡を使用して分光測定することで測定波長毎の画像表示ができることから輝度表示ではわからない波長毎の画像表示及びサブピクセルの分光スペクトルの取得ができ、どの程度混色しているのか評価することが可能です。
赤(R)発光時は緑(G)や青(B)、緑(G)発光時は赤(R)や青(B)に影響を受けますが、青(B)発光時は赤(R)のみで緑(G)には影響を受けない事も把握できる測定データの取得ができます。
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