半導体で培った微細欠陥検出を金属加工製品検査装置へ。
この外観検査装置、Prestigeでは、ありとあらゆるミクロンレベルの欠陥を検出することが可能です。通常、欠陥検出においては、欠陥の大きさ、形などを検査装置にレシピとして登録し、そのレシピに基づき検査する方式がとられますが、弊社の独自の検査アルゴリズムにより、検査工程中でも、欠陥と思われるものが存在した場合、レシピに登録していないような欠陥でも欠陥として検出することが可能です。
また、物理的に検出できる欠陥以外にも光学の技術を応用し、エッチング工程で発生しうるシミやムラなども併せて検出することが可能です。なお、検査対象製品の表面、裏面を同一の検査工程で検査することにも対応しております。さらにオプション装置を使用することにより欠陥部材の発生箇所をそのオプション装置と連携し自動で欠陥部材を取り除く欠陥部材自動除去装置と接続することが可能です。
Prestigeにてサポートしている主な機能。
●キズ、へこみ、くぼみなど、物理的な欠陥を検出
●金属エッチング工程で発生するシミやムラの検出
●微細金属加工における表面状態観察
●欠陥部材自動除去装置(Prestige、オプション機能)
等
金属加工製品、半導体の検査を【自動化】するために。
CCTECH(シーシーテック)は世界最高峰の金属微細加工製品、半導体向けの検査装置を開発、製造するメーカーです。半導体装置で培った微細化製品の検査技術を金属微細加工製品の検査へ応用しコストパフォーマンスの高い製品とサービスを提供します。欠陥として検出された部材を自動除去する装置も併せてご提供。顧客志向を最優先にし、お客様の検査要望に対応する企業理念を持ち、微細化製品のあらゆる外観検査をサポートします。
出展団体名 | CCTECH JAPAN株式会社 |
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所在地 | 〒141-0022 東京都 品川区東五反田 2-8-3五反田ASビル3階 |
設立年月 | 2018年07月 |
従業員規模 | 11名-50名 |
URL | https://cctech.co.jp/ |